深圳市光电股份有限公司 程序文件 文件名称：可靠性试验标准和方法-----原物料变更 和新产品开发 文件编号： WI-824-10-01 版本/版次： B5 生效日期： 受控状态： 批 准 审 核 拟 制
1 目的
对新引进的原物料和新开发的产品进行可靠性试验,确保产品可靠性,满足客户品质需求。 2 适用范围
2.1公司产品中所用的主要原材料（ 芯片、支架、封装胶、金线、固晶胶、荧光粉等）。以上原物料发生变更时进行相关的可靠性实验，根据实验的结果确认该原材料是否可以进行导入。 2.2 新产品可靠性试验。
3 定义
可靠性:LED产品在规定条件下和规定时间内，完成规定功能的能力。 一般以“光衰减”和“色漂”来定义LED的可靠性水平。
L70：光强度（光通量）衰减到初始光强度（光通量）的70%时的时间，称为L70寿命。 L50：光强度（光通量）衰减到初始光强度（光通量）的50%时的时间，称为L50寿命。
4 职责
4.1质量部：
4.1.1负责试验设备的计量和校正工作。 4.2技术部：
4.2.1负责可靠性项目、试验标准制订、实施和记录。 4.2.2负责新材料和新产品的可靠性试验，评估可用的有竞争力的原材料和新产品可靠性水平。 5 内容
5.1可靠性实验抽样计划及对应不良允许标准：
5.1.1各试验项目的抽样样品全部合格才能通过。
5.1.2在评价过程中，若出现不满足测试标准的情况时，对应产品直接判定NG,无需进行之后
的评价。
5.2 原材料及工艺变更做的可靠性试验项目 序号 原材料 实验项目 1 2 3 4 5 6 7 LED芯片 支架 LED PCB 封装胶 胶饼 金线 银胶 1.常温寿命 2.加速寿命或高温寿命 3.回流焊 4.ESD 5. 温度循环 1.常温寿命 2. 高温寿命 3.紫外线照射4.回流焊5.高温高湿6. 温度循环7.红墨水试验8.基板弯曲试验9.蒸煮试验 1.常温寿命 2.加速寿命3.沾锡试验 4. 温度循环 1.常温寿命 2.高温寿命3.紫外线照射4.回流焊5.高温高湿6. 冷热冲击7.断裂试验8.硫化试验9.蒸煮试验 1.常温寿命 2.高温寿命 3.紫外线照射 4.回流焊5.高温高湿6. 冷热冲击7.断裂试验 1.冷热冲击 2.回流焊 1. 加速寿命 2.回流焊3.高温储存4.低温储存5. 冷热冲击6.剪切力试验7.高温寿命（一）8. 高温寿命
8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 固晶胶 荧光粉 ZENER 灯条PCB 连接器 连接线 透镜 UV胶 热固胶 导热胶带 锡膏 1. 加速寿命 2.回流焊3. 冷热冲击4.剪切力试验5. 紫外线照射 1. 加速寿命 2.高温高湿3.回流焊 4. 高温寿命 1. 温度循环2.回流焊 1.可焊性；2.热冲击；3. 高温高湿；4. 冷热冲击 1.可焊性；2. 高温高湿； 1. 高温高湿； 1. 高温高湿；2. 冷热冲击；3跌落测试； 1. 高温高湿；2. 冷热冲击； 1. 高温高湿；2. 冷热冲击；3跌落测试； 1. 高温高湿；2. 冷热冲击； 1.可焊性；2.热冲击；3. 高温高湿；4. 冷热冲击 备注：采用的实验项目依据：所制产品类别（CHIP LED、S/V LED、TOP LED、车载LED、灯条LB）及型号查找对应可靠性项目。
5.3 新产品必要可靠性试验
参见CHIP LED,S/V LED,TOP LED，车载LED及灯条LB可靠性试验项目全做。
5.3可靠性试验流程：
试验时机决定试验项目决定试验样品准备进行试验FAIL试验结果判定是否分析YES失效分析PASSNO原因分析做成记录发出报告采取改善对策
5.4 试验类别及时机：
5.4.1 评估试验：新材料导入或原物料发生变更前,须进行该项新材料或原材料所制产品的相
关可靠性试验。 5.4.2 新产品开发设计定型试验：新产品的开发设计定型时产品负责人须进行该项新产品的可
靠性试验。
5.5 5万小时试验：
5.5.1 对于新产品做5万小时常温点亮试验,属长时间寿命测试。技术部取电性良好的同型号同批次样品5PCS试验。
试验条件是在环境温度25oC±5oC条件下，CHIP LED和S/V LED依分光电流点亮试验； TOP LED焊接在试验板上做，依分光电流点亮试验。试验步骤如下所示：
5.5.1.1设计EXCEL表格，列项含老化时间t（以小时为单位）、IV值（流明值）、R-IV值（相
对流明值）（以初始值为“1“单位），ln
R-IV
、 Vf值，XY坐标值,CCT(色温)；行项含0hr、168hr、
336hr、504hr、672hr、840hr、1008hr、1500hr、2000hr、2500hr、3000hr、3500hr、4000hr、4500hr、5000hr、6000hr、7000hr、8000hr、9000hr、104hr、1.2x104hr、1.4x104hr、1.6x104hr、1.8x104hr、2x104hr、2.2x104hr、2.4x104hr、2.6x104hr、2.8x104hr、3x104hr、3.2x104hr、3.4x104hr、3.6x104hr、3.8x104hr、4x104hr、4.2x104hr、4.4x104hr、4.6x104hr、4.8x104hr、5x104hr。
5.5.3 在1008hr、5000hr、10000小时、15000小时、20000小时、25000小时、30000小时、35000小时、40000小时、45000小时、50000小时点上，使用MINITAB或SPSS曲线回归（Regression）工具，得到ln
R-IV
=-at，其中-a为衰减系数，为常量。t为点亮时间，为变量。得到-a值后，
（-at）
再变换到R-IV=ce，这个方程就是亮度的衰减方程。 不同的拟合时间点，会有不同的-a 值
(差异不大)，不同的产品会有不同的-a值。
5.5.1.2可以依此有效的回归方程对产品亮度衰减作区间预测.
5.5.1.3在点亮中途，如果亮度衰减明显超出要求(暂定50%)，可以中断点亮，通知技术部重新改进工艺生产样品，再进行数万小时点亮试验。 5.5.2 例子
? 机器的可靠度随时间的延续而降低，测得数据如下：
时间 t(年) 可靠度z%
87 78.7 71.2 64.4 58.2 52.6 47.5 42.9 38.8 35.1 31.7 28.6 25.8 1
2
3
4
5
6
7
8
9
10 11 12 13
解: 先画散点图。图形》散点图，选简单，Y项中点入Z，X项点入Y。在标签栏之标题中
写入“可靠度与时间关系”。
90807060Z可靠度与时间关系
504030200246Y8101214z与t大致是指数关系:Z=ce
bt
因为MINITAB不像SPSS功能强大，没有直接拟合指数的模型，故要转换为线性，之后还原。 对Z=ce两边取以e为底的对数lnz=lnc+bt，令lnz=y, lnc=a,则转化为线性方程为：y=a+bt。将lnz加入MINITAB表格中,表格如下: t z/% lnz 1 87.0 -0.139 2 78.7 -0.240 3 71.2 -0.340 4 64.4 -0.440 5 58.2 -0.541 6 52.6 -0.642 7 47.5 -0.744 8 42.9 -0.846 9 38.8 -0.947
bt
LED可靠性试验标准和方法B5版
