形位公差及其检测方法
一、 概念： 1.1定义：
形状公差：单一实际要素形状所允许的变动全量。
位置公差：关联实际要素的位置对基准所允许的变动全量。
形位公差：形状公差与位置公差的总称。它控制着零件的实际要素在形状、位置及方向上的变化。
形位公差带：用以限制实际要素形状或位置变动的区域。由形状、大小、方向和位置四个要素所确定。 公差原则：形位公差与尺寸公差之间的相互关系。包括独立原则与相关要求。
独立原则：图样上给出的尺寸公差与形位公差各自独立，彼此无关，分别满足要求的公差原则。
相关要求：图样上给定的尺寸公差和形位公差相互有关的公差要求。具体可分为包容要求（E）、最大实体要求（M）、最小实体要求（L）和可逆要求（R）。 1.2形位公差的项目及符号： 1.3形位公差带的形式：
形位公差符号及其它相关符号分 类项 目符 号分 类定位 向置 定公 位差跳动项 目平行度垂直度倾斜度同轴度对称度位置度圆跳动全跳动符 号名 称基准符号及代号基准目标其 它 符 号最大实体状态包容原则延伸公差带理论正确尺寸不准凹下不准凸起只许按小端方向减小EP符 号直线度形 平面度状 公 差圆 度圆柱度线轮廓度面轮廓度二、 形状误差与形状公差： 形位公差带的形式两平行直线一个圆柱tt两等距曲线一个四棱柱t2t两同心圆t两同轴圆柱t1t一个圆两平行平面一个球球两等距曲面三、 位置误差与位置公差： 四、 检测方法： 1、检测原则： 2、测量方法： 2.1直线度的测量： tt一般用首尾连线评定直线度的误差，常用的有打表测量法与影像测量法。在校准设备的直线度时常用光隙法或自准直仪法。
2.2平面度的测量：
常用打表法或三坐标测量法，还可用平面平晶、水平仪或自准直仪测量。 2.3圆度的测量：
常用的两点测量、影像测量与三坐标测量法。还可用圆度仪或三点测量法。 2.4圆柱度的测量：
常用的是三坐标测量。还可用圆度仪测量。在同轴度误差较小时，也可用径向全跳动来代替检验。 2.5线、面轮廓度的测量：
利用仿形测量装置，将轮廓样版与被测量轮廓比较，测其光隙大小。用三坐标测量，通过数据处理得出。 2.6定向误差的测量：
常用影像或三坐标测量。也可使用打表测量，在测量垂直度与倾斜度时可以借助辅具转换基准面。 2.7定位误差的测量：
可用影像和三坐标测量直接测量，对称度也可以用打表测量。位置度投影完后得出的相对于理论正确尺寸的偏差fx与fy，需再通过计算才能得出位置度误差值。也可用综合量规检验孔组位置度。
fx+fy 公式：图解法： 2.8跳动量的测量： 建立基准，并使被测件绕基准轴线作无轴向移动的旋转。指示表面固定位置上的变动量反映该截面的圆跳动值；指示表沿被测要素的理想方向移动（连续或间断），则指示表的示值最大变动量为全跳动值。无特殊规定时，提示表的测头均应垂直于被测要素。
形位公差及其检测办法
