强激光辐照下光电探测器响应性能的研究

强激光辐照下光电探测器响应性能的研究

徐立君;蔡红星;李昌立;毕娟;金光勇;张喜和

【期刊名称】《应用光学》 【年(卷),期】2010(031)006

【摘要】响应度R是反映探测器性能的一项重要指标,当探测器被强激光损伤后,光电探测器的响应度将发生改变.设计了一套实时测量探测器响应度的装置,用能量逐渐增加的Nd:YAG激光辐照PIN光电探测器,获得了探测器响应度与入射强激光功率密度的变化关系.从实验数据可知,探测器被功率密度低于7.6×105W/cm2的激光辐照后不会发生损伤,探测器对532 nm参考光的响应度不变;当激光的功率密度超过1.27×106W/cm2时,激光辐照后,探测器对532 nm参考光的响应度开始下降,当探测器被功率密度为6.01×105W/cm2的激光辐照后,响应度迅速下降,PN结遭到破坏是探测器响应度下降的根本原因,扫描电镜的结果与我们的分析相一致. 【总页数】5页(1018-1022)

【关键词】激光物理;响应度;光电探测器;短路电流;激光辐照 【作者】徐立君;蔡红星;李昌立;毕娟;金光勇;张喜和

【作者单位】长春理工大学理学院,吉林,长春,130022;长春理工大学理学院,吉林,长春,130022;长春理工大学理学院,吉林,长春,130022;长春理工大学理学院,吉林,长春,130022;长春理工大学理学院,吉林,长春,130022;长春理工大学理学院,吉林,长春,130022 【正文语种】中文 【中图分类】TN241